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芯片片上SRAM存储概略及生成使用实践 （中）
#后端  #SRAM  #DFT  #MBIST $MBISR 
SRAM的除过主要的memory array意外，还可以包含可更多可测性的支持和扩展
艾思后端实现
Mbist仿真初探
#中端  #DFT  #MBIST  #仿真 
Mbist方法是目前大容量存储器测试的主流技术，该技术利用芯片内部专门设计的BIST 电路进行自动化测试，能够对嵌入式存储器这种具有复杂电路结构的嵌入式模块进行全面的测试。MBIST 电路将产生测试向量的电路模块以及检测测试结果的比较模块都置于芯片的内部，在测试完成后，将测试的结果通过芯片的测试引脚送出到芯片的外部。
志芯